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Titre : | Les enveloppes psychiques de l'adolescent : un essai de modélisation par un test projectif dans le refus scolaire (2003) |
Auteurs : | G. Brandibas ; Jean-Luc Sudres ; A. Bernoussi ; R. Fourasté |
Type de document : | Article |
Dans : | Neuropsychiatrie de l'enfance et de l'adolescence (Vol. 51, n° 6, Octobre 2003) |
Article en page(s) : | p. 344-353 |
Langues: | Français |
Descripteurs : |
HE Vinci Adolescence ; Adolescent (12-18 ANS) ; Family system test (FAST) ; Phobie scolaireAutres descripteurs Enveloppe psychique ; Operationnalisation |
Résumé : | Le concept de Moi-peau développé par D. Anzieu [1], [2] est à l'origine d'une approche fonctionnelle particulière de l'appareil psychique, en lien avec la dynamique des groupes largement développée par le même auteur [7]. Cette approche permet de repérer « opérationnellement » les dysfonctionnements du lien entre le sujet et son environnement, ainsi que leurs incidences sur l'économie individuelle, familiale et sociale. Avec le sujet adolescent, cette dynamique processuelle apparaît en mesure de nous apporter une intelligibilité clinique, notamment dans son rapport à l'école. En cette entreprise, l'utilisation d'un test projectif singulier tel que le FAST (Family System Test) [16] apporte un éclairage novateur avec des perspectives d'application psychodynamique dans le champ du refus scolaire et de la scolarité en général. |
Disponible en ligne : | Oui |
En ligne : | https://login.ezproxy.vinci.be/login?url=http://www.em-premium.com/article/18091 |